Ένα πρότυπο βαθμονόμησης Wafer χρησιμοποιείται για την επαλήθευση και τον έλεγχο δύο προδιαγραφών ενός εργαλείου SSIS: ακρίβεια μεγέθους σε συγκεκριμένα μεγέθη σωματιδίων και ομοιομορφία σάρωσης σε όλη τη γκοφρέτα κατά τη διάρκεια κάθε σάρωσης.

Εμφάνιση όλων των αποτελεσμάτων 3

Μεταφράζω "